同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

性能

同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

A.  高(gao)精度(du)

自動平衡電橋技術的應用，得以在10Hz-130MHz頻率(lv)、1mΩ-100M的阻(zu)抗(kang)范圍(wei)內都能達到理(li)想的測(ce)量(liang)精(jing)度(du)，其中z高精(jing)度(du)達0.08%，遠遠高于(yu)射(she)(she)頻反射(she)(she)測(ce)量(liang)法的阻(zu)抗(kang)分析儀、網絡分析儀的精(jing)度(du)。

B.  高穩定性(xing)和高一致性(xing)

下(xia)圖(tu)是在速度(du)5、測試頻(pin)率1MHz，測量100Ω電阻(zu)的曲線，由(you)下(xia)圖(tu)可見其(qi)軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.  高速度

D.  10.1寸大(da)屏，四種測量參數，讓細節一覽無遺

10.1寸(cun)觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統、中英(ying)文操作(zuo)(zuo)界面，支持鍵(jian)盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的(de)(de)是無以倫(lun)比的(de)(de)操作(zuo)(zuo)便捷(jie)性。

大(da)屏(ping)幕(mu)帶來更多的好處(chu)是(shi)，可以(yi)(yi)把所(suo)有測(ce)(ce)試(shi)參數(shu)(shu)及分選參數(shu)(shu)、分選結果、功能(neng)選擇(ze)等參數(shu)(shu)放置在同(tong)一(yi)屏(ping)幕(mu)，而(er)且看(kan)起來絕不擁擠(ji)和雜亂，同(tong)時可以(yi)(yi)顯示四種測(ce)(ce)量參數(shu)(shu)，四種測(ce)(ce)量參數(shu)(shu)任意可調。屏(ping)幕(mu)左邊的按鈕可以(yi)(yi)快捷選擇(ze)8套測(ce)(ce)試(shi)參數(shu)(shu)

E.  增強的(de)列(lie)表掃描功能

可以z多設置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.  強大的分析圖形界面

z多通(tong)道(dao)可以z多顯示4條曲線(xian)。通(tong)道(dao)和(he)曲線(xian)各有十(shi)四種(zhong)分屏顯示方法

G.分(fen)段(duan)掃描功能

z多可(ke)以4通道同(tong)(tong)時顯(xian)(xian)示，每個通道可(ke)以z多顯(xian)(xian)示4條(tiao)曲(qu)(qu)線。通道和曲(qu)(qu)線各(ge)有十四(si)種分屏顯(xian)(xian)示方法(fa)。分段掃(sao)描(miao)是(shi)在(zai)一個掃(sao)描(miao)周期內(nei)，設(she)置(zhi)(zhi)不同(tong)(tong)的頻(pin)率(lv)分段進行掃(sao)描(miao)，掃(sao)描(miao)時可(ke)設(she)置(zhi)(zhi)不同(tong)(tong)的電平及偏置(zhi)(zhi)，掃(sao)描(miao)結果直接(jie)圖形顯(xian)(xian)示，用于(yu)需要快速篩選多個頻(pin)率(lv)段參數的掃(sao)描(miao)需求。

如晶體諧(xie)振(zhen)器(qi)需(xu)要測試標稱諧(xie)振(zhen)/抗諧(xie)振(zhen)頻(pin)率以(yi)及其他雜散頻(pin)率，通過分段掃描(miao)共呢個(ge)可(ke)在(zai)特(te)定(ding)頻(pin)率范(fan)圍(wei)內(nei)掃描(miao)測量，無需(xu)掃描(miao)不相關頻(pin)率。

H.強大(da)的(de)光(guang)標(biao)分析能力(li)

TH2851系(xi)列(lie)精密阻抗分析(xi)儀具(ju)有(you)強大(da)的光標(biao)(biao)分析(xi)能(neng)力(li)，可以(yi)通(tong)過光標(biao)(biao)實現如下功(gong)能(neng)：

1. 讀取測(ce)量結果的數(shu)值(zhi)（作(zuo)為(wei)絕對(dui)(dui)數(shu)值(zhi)或者相(xiang)對(dui)(dui)于參(can)考點的相(xiang)對(dui)(dui)值(zhi)）

2. 查(cha)找曲線上的特定點（光標查(cha)找）

3. 分析曲(qu)線測量結果，計(ji)算(suan)統計(ji)數(shu)據

4. 使用光標值修改(gai)掃描范圍以及縱坐(zuo)標縮放

TH2851 可以在每條(tiao)曲線上顯示 10 個光標，包括(kuo)了參(can)考光標。

每個(ge)光標(biao)有一個(ge)激勵值（坐標(biao)系(xi)(xi) X 軸對應(ying)的(de)數(shu)值）和響應(ying)值（坐標(biao)系(xi)(xi) Y 軸對應(ying)的(de)數(shu)值）。

光標查找功能允許搜(sou)索下列(lie)條件測量點：z大值、z小值

峰谷(gu)(gu)值(zhi)(zhi)： 峰值(zhi)(zhi)（極(ji)大值(zhi)(zhi)）、谷(gu)(gu)值(zhi)(zhi)（極(ji)小值(zhi)(zhi)）、光(guang)標左側(ce)z近(jin)的峰谷(gu)(gu)值(zhi)(zhi)、光(guang)標右側(ce)z近(jin)的峰谷(gu)(gu)值(zhi)(zhi)、多重(zhong)峰谷(gu)(gu)值(zhi)(zhi)

目(mu)標(biao)(biao)(biao)值： 距離光標(biao)(biao)(biao)z近(jin)的(de)目(mu)標(biao)(biao)(biao)值、光標(biao)(biao)(biao)左側z近(jin)的(de)目(mu)標(biao)(biao)(biao)值、光標(biao)(biao)(biao)右側z近(jin)的(de)目(mu)標(biao)(biao)(biao)值、多重目(mu)標(biao)(biao)(biao)值

G.強大的圖形分(fen)析功(gong)能

1） 曲線(xian)分選功能

可以對(dui)掃描(miao)曲線全(quan)部(bu)或者(zhe)部(bu)分區域的(de)測(ce)試值進行合格(ge)/不(bu)合格(ge)判斷，常用(yong)于諧(xie)振曲線刷(shua)選如(ru)壓電元(yuan)件等諧(xie)振頻率篩(shai)選。

2）等效(xiao)電路分析測(ce)試

現(xian)實生活中不(bu)同類(lei)型(xing)的器(qi)件可(ke)以被等效成(cheng)簡單的三參數四種(zhong)模型(xing)、四參數三種(zhong)模型(xing)的阻(zu)抗(kang)器(qi)件，等效電路(lu)分析測試功能(neng)提供了7種(zhong)基(ji)本的電路(lu)模型(xing)用(yong)于等效這(zhe)些器(qi)件。

可以(yi)(yi)通(tong)過(guo)仿真的等(deng)效(xiao)電路參(can)數(shu)值的阻抗擬合曲線與實際(ji)測量的阻抗曲線進行對比，還可以(yi)(yi)通(tong)過(guo)您輸入(ru)的參(can)數(shu)按照(zhao)所選擇的模(mo)型(xing)進行擬合。

等(deng)效的電(dian)路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保(bao)存(cun)使用

3） 晶體振蕩器分析

對(dui)壓電陶瓷等(deng)晶(jing)體進行測(ce)量(liang)以及性能分(fen)析，測(ce)量(liang)計算后(hou)獲取晶(jing)體的(de)諧振頻率、反(fan)諧振頻率、品質因(yin)數等(deng)重要(yao)參數。

4） 曲(qu)線軌(gui)跡(ji)對比

曲線軌跡對比(bi)用于對被(bei)測件進行連續測量，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下(xia)列(lie)兩種應用：

a) 針對多種(zhong)不(bu)同被測件

對比不(bu)同測量條件下(xia)的曲線軌跡(ji)

設置不同(tong)的頻(pin)率(lv)點，計算出(chu)所有曲線(xian)在該頻(pin)率(lv)點的測(ce)量(liang)值

b) 針對同(tong)一個被測件

對比同(tong)一個條件下測量的多次測量結(jie)果(guo)重復性(xing)

設置不同頻率點，計算(suan)出所有曲線在該頻率點的測量(liang)值。

F.標(biao)配附件

F.選配附(fu)件